[vc_row][vc_column][vc_column_text]La nostra attività è orientata allo studio e allo sviluppo di nuovi materiali con alto potenziale di applicazione e al controllo di qualità di materiali e dispositivi in diversi ambiti tecnologici.
Le tecniche di caratterizzazione sono prevalentemente di spettroscopia ottica, svolte anche in transienti temporali sub-nanosecondo per comprendere le cinetiche degli stati eccitati e quindi arrivare allo studio e alle determinazione di impurezze anche dell’ordine di pochi ppm e, ovviamente ai loro effetti sul dispositivo finale.

Le analisi di superficie sono svolte mediante spettroscopia Raman in un ampio intervallo di energie di eccitazione (400-1064 nm) per eliminare possibili problemi legati alle specificità dei campioni, ma anche per sfruttare l’assorbimento dell’eccitazione per focalizzare lo studio su poche decine di nanometri. Queste tecniche, oltre per il loro carattere complementare alle tecniche di indagine strutturale convenzionali, si contraddistinguono per l’essere totalmente non-distruttive per i campioni stessi.

Studi specifici sugli effetti delle radiazioni ionizzanti sulle proprietà strutturali e sulle difettività indotte possono dare importanti informazioni sulla stabilità dei campioni in condizione di lavoro estremo. In collaborazione con diverse imprese, abbiamo studiato monocristalli per scintillatori ad alte energie, mono o policristalli per applicazioni fotoniche (laser, LED), campioni ceramici poli o monocristallini e substrati nanostrutturati per applicazioni optoelettroniche; svolgiamo questa attività con esperienza decennale su molte tipologie di campioni. Infine, abbiamo recentemente sviluppato dei dosimetri con sistemi integrati di lettura ottica per il monitoraggio continuo delle radiazioni ionizzanti ambientali.

Contatti: carlo.ricci@dsf.unica.it[/vc_column_text][vc_empty_space][/vc_column][/vc_row]